XRay Difraktometre (XRD) cihazları, X ışınları tarafından oluşturulan kırınım deseninden atomik düzeyde bilgi edinmek için kullanılmaktadır. X Işınları ölçümleri kristale zarar vermeksizin yapısı hakkında bilgi veren güçlü bir yöntemdir. X Işınları kırınımı günümüzde malzeme karakterizasyonu için yaygın olarak kullanılmaktadır.
Cihazlarımız ile ilgili detaylı bilgi ve fiyat seçenekleri için dilediğiniz zaman bizimle iletişime geçebilirsiniz.
19 Mayıs Mahallesi Sumer Sokak Sumko Sitesi A7 BLOK NO:3CL İç Kapı No:4, 34736 Kadıköy/İstanbul
info@ankaanalitik.com.tr
+90 (216) 577 52 96
© AnkaAnalitik.com.tr. All Rights Reserved. Designed by Bayraktar Tasarım