EXPLORER XRD CİHAZI

• Yüksek radyasyon muhafazası ve geniş çalışma ve görüş alanı.
• Çift emniyet devresi
• Theta/Theta dikey Gonyometre, bağımsız tork Motorlu, gonyometre uzunluğu = 200 - 300 mm.
• 3000 W yüksek voltaj Jeneratörü (opsiyonel 4000 W).
• Uzun ömürlü yüksek X-ışın radyasyon yoğunluğuNA sahip X-Işın Tüpleri (Cu, Mo, Co, Cr, W, Ag Anot)
• Dönebilen ve sabit tüp bloğu.
• Motorlu ve sabit ayarlanabilen modüler optikler
• H.P.C Teknoloji'e sahip CeleriX hızlı dedektörü (0D,1D, Opsiyonel:2D) tarama süresini 1000 kata kadar düşürür
• Otomatik numune değiştirici, Ambient Chamber.
• XRF analizi için SDD Peltier soğutmalı detektörü.
• Eulerian Cradle
• Capillary numune tutucuları.
• Bıçak (knife edge) ve Secondary Collimator (LESS)
• Johansson, Parabolic ayna, 2 Bounce, 4 bounce monokromotörler

Faz analizi ve tanımlaması, analitik numuneler içindeki farklı polikristalin yapılarının incelenip tespit edilmesidir.

Bir faz, kendine özel kristal yapısı  ve bileşimlerinin kombinasyonlarından meydana gelen karakteristik toz kırınım modeli sayesinde diğerinden ayrılır.

EXPLORER ile faz analizleri her türlü kristal yapıya sahip malzemeler için uygulanabilir ve sadece tanımlama ile sınırlı kalmayarak  tam kantitatif analize kadar genişletilebilir.

• Faz tanımlamaları (Kalitatif) 
• Kantitatif Analiz (RIR- Rietveld Refinement)
• Kristalleşme Derecesi
• Kristal Boyut Analizi
• Kafes (Lattice) Gerilme Analizi.
• Amorf miktar tayini.
   

Transmission - XRD (Geçirgenlik XRD)

Geçirgenlik X-ışını kırınım deneylerinde, gelen X-ışını numune tarafından yansıtılmaz, bunun yerine kırınım işleminin gerçekleştiği örnek boyunca ilerler.

ilaç veya polimer endüstrilerinden gelen organik bileşikler gibi hafif atomlardan oluşan malzemeler, X-ışınları için "geçirgendir". Bragg-Brentano geometrisinde bu malzemeler üzerinde X ışını kırınım deneyleri yapıldığında, numunenin yüksek geçirgenliğinin bir sonucu olarak yansıyanışınlaarda büyük bir yer değiştirme meydana gelecektir. Bu durumlarda iletim deneyleri önerilir.

EXPLORER, Geçirgenlik geometrisinde, X-ışını tüpünün odağından çıkan X-ışını, bir X-ışını aynası tarafından dedektöre odaklanır. Örneğin bir folyo , gelen ışın kırınım düzlemine dik olarak yerleştirilir. X ışını Bragg açısı üzerinde kırılır ve 2Theta çemberindeki dedektöre odaklanır.

EXPLORER XRD cihazında geçirgenlik deneyleri cam kılcal numuneler içerisinde de gerçekleştirilebilir. Buradaki amaç, havayla temas etmesini istemediğimiz veya operatörün sağlığı için tehlikeli olan küçük miktarlarda toz numunelerin doğru ölçümleri için yapılmaktadır. Numunelerin döndürülmesi, daha fazla kristalden ışın kırınım durumu olacağından ölçüm doğruluğunu artırır.     

EXPLORER İnce filmlerin veya çok katmanlı kaplamaların faz analizinde, katmanlardan gelen sinyalin yoğunluğunu arttırmak ve yüzey (substrat) yansımalarını azaltmak için ölçümleri düşük açılarda yapabilir. Ölçüm sırasında, dedektör 2-teta aralığında taranırken geliş (w) açısı sabit kalır. Bu konfigürasyonda, yansıyan ışına için paralel ışın kolimatörü (LESS) bağlanır.

EXPLORER, ince film tabakası kalınlığı, yoğunluğu, yüzey ve arayüz pürüzlülüğünün karakterizasyonunu tek bir ölçümle gerçekleştirebilir. Filmler tek veya çok katmanlı, sadece birkaç atom veya 500 nm kalınlığa kadar ise, analiz hızlı, kolay ve tamamen tahribatsız bir şekilde yapar.
Knife Edge kolimatörü, kristal monokromatörlerinde yaşanan tipik yoğunluk azaması olmadan birincil ışınların optimum şekilde toplanmasını sağlar.

• İnce Film ve Toz Faz Analizi
• İnce Film ve Toz Yapısı
• İnce Film Kafes (lattice) Gerilme Analizi
• İnce filmin yapısı.
• İnce film (tek veya çok katmanlı) kalınlık, pürüzlülük ve yoğunluk analizi

EXPLORER düşük açılı X-ışını saçılımı (SAXS) tekniğini kullnarak, nano ölçekli malzemelerin yapısal karakterizasyonu için idealdir aynı zamanda nanoparçacık, gözenek boyutu analizine ve spesifik yüzey alanı belirlemesine olanak sağlar.

SAXS ölçümleri için konfigürasyon, dar, yüksek oranda toplanmış yoğun bir X-ışınına, herhangi bir parazit saçılımın etkili bir şekilde bastırılmasına ve yüksek doğrusallık aralığına sahip bir dedektöre ihtiyaç duyar. Amaç, doğrudan gelen ışının civarındaki 0,1 derece ve altına kadar olan saçılmaları ölçmektir. Erişilebilir en küçük saçılma açısı, incelenebilecek boyutun üst sınırını (örn. Parçacık çapı) belirler.

SAXS, aşağıdaki gibi malzemelerdeki 0.5 ila 50 nm boyut aralığında yapısal ayrıntıları araştırmak için uygulanır:

• Nanotozların partikül boyutlandırılması
• Yaşam bilimi ve biyoteknoloji (proteinler, virüsler, DNA kompleksleri)
• Polimer filmler ve elyaflar
• Hacim başına katalizör yüzeyi
• Mikro emülsiyon
• Sıvı Kristaller

Texture analizi, bir örnek oluşturan kristalitlerin oryantasyon dağılımının belirlendiği bir kırınım tekniğidir.
Metal ve seramik sınıfı malzemelerin çoğunda olduğu gibi polikristalin katı malzemelerde, kristalitlerin oryantasyonu, ideal bir toz örneğinde olduğu gibi genellikle rastgele dağıtılmaz. Çoğu durumda, kristalitlerin numune referans çerçevesine göre tercih edilen bir yönü mevcuttur. Malzeme biliminde buna Texture denir. Texture bilgisi, araştırılan malzemenin mekanik, fiziksel veya kimyasal davranışını anlamada önemli bir faktördür.

EXPLORER, Yeni Eulerian cradle ve Mythen Hybrid Foton Sayma doğrusal dedektörü sayesinde, texture analizinin doğru ve basit bir şekilde yapılmasını sağlar.

                                                                   
                                      Rotating Tube Shield                                                                    Eulerian cradle

Kalıntı Gerilme Analizi

X-ışını kırınımı, bir malzemenin kristal yapısını, kristal kafes yönelimini ve kafes düzlemlerinin aralığını ölçmek için yaygın olarak kullanılır. EXPLORER, belirli bir malzeme için özel olarak seçilmiş bir kafes düzlem yansımalarının aralığını ölçmek için tasarlanmıştır. Explorer, çelik, paslanmaz çelik, alüminyum veya magnezyum alaşımları için bu ölçümleri optimize etmek üzere seçilen çeşitli X-ışını tüplerini kullanır. EXPLORER kristal kafes boşluklarının normal durmdaki ve numunedeki yani yük altındaki ölçümlerini yaparak gerilim hesaplaması yapar.

EXPLORER XRD cihazı MATCH yazlımı kullanmaktadır.

Yazılım Özellikleri

• Toz difraksiyon verilerinden hızlı bir şekilde manual veya otomatik tanımlama.
• Kalitatif analizin yanısıra kantitatif analiz. (RIR, Toraya, Rietveld, DOC, dahili standart)
• Windows, mac IOS ve Linux işletim sistemleri üzerinde çalışabilir.
• Faz tanımlamada kullanımı ücretsiz COD'den (I / Ic dahil), herhangi bir ICDD PDF veri tabanından, herhangi bir eski ICSD / Rietveld versiyonundan (1993-2002 yayınlaları; geçerli lisans gerekir) ve / veya kendi kırınım verilerinizden hesaplanan referans kalıplarınızı kullanarak veya faz tanımlamasında kristal yapı verilerinden (örn. CIF dosyaları) kolaylıkla kullanım sağlanabilir.
• Kullanıcı, veri tabanı Yöneticisi kullanılmadan veya Referans veri tabanı Kütüphanesi'nde yeni dizin dosyaları oluşturmaya gerek kalmadan referans veri tabanına yeni girişler ekleyebilir. Yeni giriş verileri bir cif dosyasından içe aktarılabilir ve / veya manuel olarak düzenlenebilir.
• Kullanıcı tarafından yapılandırılabilen otomatik Rietveld hesaplaması: Hesaplama için parametre sırası setleri kolayca oluşturulabilir, saklanabilir ve daha sonra geri çağrılabilir.
• Tüm adımları otomatik olarak çalıştırabilen yeni kullanıcı seviyesi "Rietveld" eşleşen fazların tanımlanması ve Rietveld hesaplaması. Kullanıcının tek yapması gereken analiz edilecek ham difraksiyon veri dosyasını seçmek ve faz analizi raporu görüntülenene kadar birkaç saniye beklemektir.
• Numune yerleşmeden kaynaklı Asimetrik geometri hatası düzeltmesi
• Referans veri tabanlarının esnek kullanımı (kullanıcı veri tabanları dahil); yeni bir veri tabanı indekslemesi yapmaya gerek kalmadan farklı referans veri tabanları arasında kolayca geçiş yapabilirsiniz
• X-ışını ve nötron kırınımı için referans veri tabanları oluşturun (örneğin cif dosyalarından)
• Kullanıcı verilerinin kolay işlenmesi için rahat kullanıcı veri tabanı yöneticisi (giriş ekleme / alma / düzenleme / silme / sıralama)
• Güçlü CIF ve ICSD / aktarımı, toz paterni dahil, I / Ic ve yoğunluk hesabı
• Mevcut atom koordinatları; ICSD'de ICDD PDF 4+ da veya ücretsiz referans verileri veri sayfalarında görüntülenir ve CIF veya Text file dışa aktarmalarına dahil edilir (örneğin Rietveld analizi için)
• Miller indekslerinin (hkl) kırınım paternlerinde ve giriş veri sayfalarında gösterilmesi
• Kendi difraksiyon verilerinizin PDF (arama-eşleme, geri alma, veri görüntüleme) verileri ile tamamen entegre kullanımı.
• Faz tanımlamada otomatk geri kalan faz tanımlama özelliği
• Otomatik ham veri işleme: α2 pik ayırma, arka plan çıkarma, pik arama, profil uydurma, hata düzeltme
• Pik arama, arama eşleme, faz tanımlama vb. için Kα2 piklerinin ayıklamasına gerek duymaz.
• Pik arama hassasiyetinin otomatik optimizasyonu
• Tüm (veya seçili) pik parametrelerinin profil verisine aktarma
• Fare veya klavye kullanarak piklerin rahat manuel olarak düzenlenmesi (ekleme / kaydırma / silme / sığdırma)
• Yarı kantitatif analiz (Referans Yoğunluk Oranı yöntemi ile)
• Ek bilgiler için doğru kullanım (kompozisyon, PDF alt dosyaları, kristalografik veriler, renk, yoğunluk vb.)
• PDF, COD ve kullanıcı veri tabanları için entegre veri tabanı erişim sistemi ve görüntüleyici
• Çoklu adım geri alma / yineleme
• Kullanıcı tarafından yapılandırılabilen otomatik çalışma
• Arama eşleştirme işlemi sırasında otomatik d-değeri kaydırma (isteğe bağlı)
• Kristal yönlenme durumunda eşleşme optimize için eşleşmede parametresinde pik şiddetin katkısı ayarlanabilmektedir. 
• Pik verilerinin ve aday modellerinin rahat grafik ve tablo karşılaştırması
• Kullanıcı tarafından yapılandırılabilen raporlar (HTML, PDF veya metin dosyası)
• Online güncelleme (otomatik veya manuel)