
Anasayfa » Partikül Boyut Ölçüm Cihazları

Bettersizer S3 Plus, lazer kırınımı (LD) ve dinamik görüntü analizini (DIA) tek bir cihazda birleştirerek partikül boyutunu ve şeklini 0,01 µm'den 3.500 µm'ye kadar kesintisiz bir aralıkta eş zamanlı olarak ölçen araştırma sınıfı bir analizördür. Bu geniş dinamik aralık; nanometrenin hemen üzerindeki ince partikülleri, endüstriyel mikron tozlarını ve milimetre ölçeğindeki kaba fraksiyonları tek bir cihazla analiz etmeyi mümkün kılar. Temel araştırmadan proses kontrolüne, ürün geliştirmeden kalite güvencesine uzanan tüm uygulamalarda tek platform yeterliliği sağlar.
Bettersizer S3 Plus'ın lazer kırınım sistemi, Bettersize tarafından geliştirilen patentli DLOI (Dual Lenses & Oblique Incidence — Çift Lens ve Eğik Işık Geliş) teknolojisine dayanır. Fourier yapısını temel alan bu sistem; ek bir lens aracılığıyla geri saçılım sinyallerini de toplayarak 0,02° ile 165° arasında kesintisiz bir açı aralığı elde eder. 96 adet fotodedektörden oluşan dizi, tek 532 nm dalga boylu lazerin saçılan ışığını sabit dalga boyu tutarlılığıyla işler. Bu yaklaşım, çift ışın sistemlerindeki uydurma hatalarını ortadan kaldırır; polimorf ve polydisperse numunelerde yüksek çözünürlük ve hassasiyet sağlar. Sonuç olarak 0,01 µm (10 nm) alt sınırına kadar güvenilir ölçüm mümkün hale gelir.
S3 Plus, 120 fps kare hızında çalışan iki ayrı CCD kamera ile donatılmıştır: 0,5× büyütmeli kamera kaba partiküllerin (2–3.500 µm) tespiti için, 10× büyütmeli kamera ise 4 µm ve üzeri partiküllerin şekil analizi için kullanılır. Bu çift kamera mimarisi, istatistiksel olarak temsil düzeyi düşük olan aşırı büyük partikülleri, aglomeratları, düzensiz parçaları ve yabancı partikülleri görsel kanıtla nicelendirir. Dairesellik, en boy oranı, konvekslik, kompaktlık ve kenar keskinliği gibi morfolojik parametreler lazer kırınımı boyut dağılımıyla aynı anda ve aynı raporda sunulur. Görüntü analizi, bağımsız olarak veya lazer kırınımıyla kombine modda çalıştırılabilir.
Mie teorisine dayalı lazer kırınımı hesaplamaları, numunenin kırılma indisini (gerçek ve sanal bileşenler) girdi olarak gerektirir. Kırılma indisi bilinmediğinde veya belirsiz olduğunda ölçüm doğruluğu düşebilir. Bettersizer S3 Plus, bu sorunu yerleşik kırılma indisi ölçüm fonksiyonuyla çözer: cihaz, belirli bir ışık dalga boyunda malzemenin toplam kırılma indisini gerçek zamanlı olarak ölçer ve optimal ölçüm koşullarını doğrudan belirler. Bu özellik, kırılma indisi literatürde yer almayan yeni malzemelerde ya da karmaşık karışımlarda analiz güvenilirliğini önemli ölçüde artırır.
Fotoğrafta görülen eksiksiz sistem konfigürasyonu — Bettersizer S3 Plus ana birimi, BT-803 büyük hacimli otomatik dispersiyon ünitesi ve BT-A60 otoörnekleyici — yüksek verimli laboratuvar otomasyonu sağlar.
High-throughput automated sampling system Measures up to 60 samples per run in liquid or dry format. Integrated barcode printer ensures traceability. 24/7 unattended operation. Reduces labor costs while maximizing throughput.
Large-volume automated liquid dispersion unit Designed for aqueous dispersants. Automated circulation and dispersion minimize operator intervention and ensure reproducible sample preparation.
Automated corrosion-resistant small-volume unit 80–200 ml capacity. Suitable for polar and non-polar solvents. Automated sample feeding and cleaning for speed and reliability.
Semi-automatic small-volume corrosion-resistant unit 50–80 ml capacity. Stainless steel stirrer with quick-lock mechanism for easy sample changes. Up to 50 W ultrasonic dispersion power.
S3 Plus'ı hangi uygulamalar için tercih edin?
Pil Malzemeleri ve Enerji Depolama: Grafit, kobalt, mangan katot/anot tozu boyutu ve şekil karakterizasyonu; enerji yoğunluğu ve stabilite optimizasyonu
Eklemeli Üretim ve Metal Tozu: AlSi10Mg gibi 3D baskı tozlarında küresellik, en boy oranı ve aglomerat analizi (ISO 9276-6 uyumlu)
Aşındırıcı ve Seramik: Standart dışı (off-spec) iri partiküllerin görsel kanıtla tespiti; sinterleme hazırlığı kalite kontrolü
İlaç ve Biyoteknoloji: Bilinmeyen kırılma indisli API ve eksipiyanların Mie teorisiyle doğru analizi; USP <429> uyumu
Toprak ve Sediment Araştırması: Ay yüzeyi, okyanus tabanı ve kıta sedimentleri gibi geniş dağılımlı karmaşık numuneler
Polimer ve Kaplama: Kaba parçacık ölçümü, aglomerat tespiti ve morfoloji bazlı proses optimizasyonu
Gıda ve Tarım: Emülsiyon stabilitesi, granül tane boyutu ve şekil homojenliği analizi
Lazer kırınımı sistemiyle 0,01 µm ile 3.500 µm arasındaki partikül boyutları ölçülür. Çift CCD kamera sistemiyle görüntü temelli şekil analizi 2 µm ile 3.500 µm arasında gerçekleştirilir. Bu, nano boyuttan milimetre ölçeğine kesintisiz kapsama sağlayan, sektörün en geniş dinamik aralıklarından biridir.
DLOI (Dual Lenses & Oblique Incidence — Çift Lens ve Eğik Işık Geliş), Bettersize tarafından patentlenen bir optik tasarımdır. Fourier yapısına dayanan bu sistemde ek bir lens, lazerin eğik geliş açısıyla birlikte geri saçılım sinyallerini de toplayarak 0,02°–165° gibi olağanüstü geniş bir açı aralığı elde eder. Bu sayede çift ışın sistemlerindeki uydurma hataları ortadan kalkar; 0,01 µm alt sınırına kadar yüksek çözünürlük ve hassasiyet sağlanır.
Mie teorisiyle lazer kırınımı hesapları, numunenin kırılma indisini girdi olarak gerektirir. Cihaz, bilinen kırılma indisi olmayan malzemelerde bu değeri yerleşik fonksiyonu aracılığıyla gerçek zamanlı olarak ölçer. Bu özellik, yeni malzemeler, karmaşık karışımlar veya veri tabanında yer almayan numuneler için ölçüm güvenilirliğini önemli ölçüde artırır.
BT-A60, tek bir çalışma serisinde 60 farklı numuneyi tamamen otomatik biçimde analiz eder. Sıvı süspansiyon ve kuru numune formatlarıyla uyumludur; entegre barkod yazıcısı sayesinde her ölçüm ilgili numuneyle eşleştirilerek izlenebilirlik sağlanır. 7/24 kesintisiz çalışma desteği sunar.
Cihaz; ISO 13320 (lazer kırınımıyla partikül boyutu analizi), ISO 13322-2 (dinamik görüntü analizi yöntemleri), ISO 9276-6 (partikül şekli ve morfoloji temsili), USP <429> (ışık kırınımıyla partikül boyutu analizi) ve 21 CFR Part 11 (elektronik kayıt ve imza gereksinimleri) ile uyumludur.
S3 Plus; 0,01 µm alt ölçüm sınırı, yerleşik çift CCD kamera sistemi ve kırılma indisi ölçümü ile ileri araştırma ve hassas şekil analizi gerektiren uygulamalar için tasarlanmıştır. Bettersizer 2600 Plus ise hem ıslak hem kuru dispersiyon esnekliği ve modüler dispersiyon üniteleriyle endüstriyel kalite kontrol ve çok yönlü laboratuvar kullanımına yönelik optimize edilmiştir.
Cihazlarımız ile ilgili detaylı bilgi ve fiyat seçenekleri için dilediğiniz zaman bizimle iletişime geçebilirsiniz.
19 Mayıs Mahallesi Sumer Sokak Sumko Sitesi A7 BLOK NO:3CL İç Kapı No:4, 34736 Kadıköy/İstanbul
info@ankaanalitik.com.tr
+90 (216) 577 52 96
© AnkaAnalitik.com.tr. All Rights Reserved. Designed by B2B Yazılım